測量AMOLED屏幕厚度，加速實現屏下攝像
全部屏時代，攝像頭放置方式是各廠商撓破頭都想解決的問題，屏下攝像頭必然是解。屏下攝像頭已經有廠商公布了一段時間了，為何到現在還不見上市？阻礙屏下攝像頭技術實現的瓶頸是屏幕！攝像頭想要透過屏幕拍攝畫面，就需要高透光率只有屏幕薄了才能有更多的光線能進入攝像頭，所以屏幕需要非常薄。AMOLED屏幕是自發(fā)光的，因為沒有了背光源，所以屏幕厚度能降到0.5-1.8mm左右，但是這還未能達到高進光量的理想要求，屏幕就需要一薄再薄。
屏幕越做越薄就會有一個棘手的問題出現，厚度應該怎么測量？海科思激光平面度厚度測量儀就解決了這個難題，應用了的光路與激光聯(lián)動技術，同時配置了高精度CCD影像和高精度的日本激光鐳射測頭系統(tǒng)，該技術使影像光學光路與激光同軸，根據測量過程的要求，二套光路可實現自動切換。平面度厚度影測量儀同時配置高速伺服馬達系統(tǒng)，實現高速測量，激光厚度測量儀的大優(yōu)點是精度高，非接觸測量對被測量物不會有損傷。
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此文關鍵字：翹曲度平面度測量儀 激光平面度測量儀 平面度測量儀
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