在工件外形測(cè)量領(lǐng)域，影像測(cè)量?jī)x和三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)是比較常見(jiàn)且具有代表性的檢測(cè)設(shè)備。影像測(cè)量?jī)x有多采用激光非接觸測(cè)量，但真對(duì)一些特殊的三維尺寸的檢測(cè)也可以加裝探針實(shí)現(xiàn)接觸式3D測(cè)量。

    三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x均采用接觸式測(cè)量方式，在使用三坐標(biāo)接觸式測(cè)量時(shí)靠一個(gè)球形探頭點(diǎn)觸零件后并將其位置信息傳遞給計(jì)算機(jī)的。所以，接觸式測(cè)量得到的數(shù)據(jù)實(shí)際上是探頭的球心位置，而要獲得物體外形的真實(shí)尺寸，則需要對(duì)探頭球半徑進(jìn)行補(bǔ)償。使用此方法進(jìn)行測(cè)量其優(yōu)點(diǎn)如下：

一、接觸式三坐標(biāo)的探頭、機(jī)械結(jié)構(gòu)及軟件系統(tǒng)等技術(shù)成熟，準(zhǔn)確性、可靠性高。

二、接觸性測(cè)量可快速準(zhǔn)確的測(cè)量出各個(gè)基本幾何形狀，圓、線、面等。

三、接觸式測(cè)量時(shí)直接接觸物體表面進(jìn)行測(cè)量，因而不受物體表面的顏色、反射特性和曲率等影響。

當(dāng)然它的缺點(diǎn)也很明顯：

一、由于接觸式測(cè)量機(jī)的測(cè)頭頻繁接觸被測(cè)工件會(huì)導(dǎo)致球形探頭容易磨損，為保持精度，需要經(jīng)常校正球頭的直徑。

二、接觸式測(cè)量時(shí)逐點(diǎn)測(cè)量，測(cè)量速度慢

三、接觸式測(cè)量無(wú)法測(cè)量零件上小于探頭直徑的小孔。

四、接觸式測(cè)量機(jī)吐過(guò)操作失誤，容易損壞探頭和降低零件某些重要部位的表面精度

五、接觸式測(cè)量會(huì)因探頭出發(fā)機(jī)構(gòu)的延遲導(dǎo)致動(dòng)態(tài)誤差

六、如果測(cè)量頭的壓力過(guò)大會(huì)使被測(cè)工件表面發(fā)生變形，導(dǎo)致測(cè)量球頭局部壓入被測(cè)工件表面，從而影響測(cè)量精度。

以上分析僅供客戶在購(gòu)置設(shè)備之前參考，具體是激光影像測(cè)量?jī)x還是接觸式檢測(cè)設(shè)備適合，還請(qǐng)綜合考慮技術(shù)專員的建議。